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한카레 어 PP, 샤테 PA, 델레카르 SD, 부세 VM, 아사베 MR, 자다브 BV, 가라드카르 KM (2006) 화학 목욕 증착에 의해 증착 된 몰리브덴 디세렌제 박막의 구조 및 광 전기 적 특성. Cryst Growth 291:40 Hankare PP, Chate PA, Sathe DJ, Chavan PA, Bhuse VM (2009) 화학 목욕 증착에 의해 증착 된 아연 셀레니드 박막의 특성에 대한 열 어닐링 효과. J Mater Sci Mater 전자 20:374 훌리거 F (1968) 전이 원소의 칼코게니드 및 pnictides의 크리스탈 화학. 구조체 본드 4:83 텅스텐 이황화 박막의 X선 회절은 10 ~80°의 2θ 범위에서 Phillips PW-1710 X선 회절계를 사용하여 기록되었습니다. 문학 조사에 따르면 텅스텐 이황화물은 육각형및 마름모꼴과 같은 두 가지 구조단계가 있는 것으로 나타났습니다. 증착된 WS2의 X선 회절 패턴은 도 1에 나타내었다. 관찰된 `d`와 표준 `d` 값을 비교하면 필름이 단상 및 육각형 구조(JCPDS-08-0237)를 나타낸다는 것을 확인할 수 있습니다. 피크의 많은 수는 박막의 다결정 특성을 제안했다. XRD 패턴은 d =6.145 Å(002)에서 가장 높은 강도의 반사 피크를 나타낸다. (002) 평면과 함께, (101), (006), (110), (114) (116) 피크도 관찰되었다. 육각상계의 격자 파라미터는 표준계를 이용하여 계산되었다. WS2 필름의 격자 파라미터 `a 및 c`는 각각 3.30 및 12.21 Å인 것으로 나타났다.

이러한 값은 이전에 보고된 값과 양호합니다(Markwell 및 Halt 1957; 델핀 외. 2005). 텅스텐 이황화 박막의 결정체 크기는 Scherrer의 공식을 사용하여 계산되었습니다. 평균 결정라이트 크기는 가장 높은 강도피크를 분해하여 계산되었다. WS2 박막의 평균 결정라이트 크기는 37.4 nm인 것으로 나타났다. 필름에서 개발된 마이크로스트레인(θ)은 방정식으로부터 계산되었다(Hankare et. al. 2009); 지난 몇 년 동안, 전이 금속 디할코겐화물과 같은 층층 구조를 가진 재료에 대한 연구는 점점 더 많은 관심을 받고 있습니다. 이것은 주로 그들의 흥미로운 이방성 행동, 그들의 다른 물리적 특성에 큰 다양성 및 다양 한 응용 프로그램에 대 한 그들의 유용성 때문에. 몰리브덴과 텅스텐 디할코게네이드는 구조적, 화학적으로 잘 정의된 화합물 제품군을 구성합니다. MoS2, MoSe2, WS2 및 WSe2는 태양 에너지 변환을 위한 매우 유망한 반도체 물질로 보입니다(Srivastava 1991; 훌리거 1968; 윌슨과 요페 1969; 스리바사타와 아바스티 1985; 로이와 스리바스타바 2006). 전환 디할코제네이드 중에서도 텅스텐 이황화물의 안정성과 비독성은 이 층형 반도체를 태양광 에너지 변환에서 흡수재로 흥미롭게 만듭니다.

텅스텐 이황화는 적층 S-W-S 슬래브로 구성된 층재료이다. 슬래브에서 육각형으로 배열된 유황과 텅스텐 원자 사이의 결합은 매우 강한 반면, 쌓인 S-W-S 슬래브는 반 데르 발스 힘의 분자 간으로 약하게 연결됩니다.

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